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TiO
中沢 哲也; 内藤 明*; 有賀 武夫; Grismanovs, V.*; 知見 康弘; 岩瀬 彰宏*; 實川 資朗
Journal of Nuclear Materials, 367-370(2), p.1398 - 1403, 2007/08
被引用回数：43 パーセンタイル：92.87(Materials Science, Multidisciplinary)高エネルギーXeイオンを照射したLiTiOの構造変化をラマン分光法を用いて調べた。LiTiOのラマン信号強度が照射により減少した。ラマン信号強度の減少は構造単位(TiO
, LiO, LiO
)におけるTiやLi周辺の酸素原子の配置に関する秩序の消失、すなわち無秩序化に起因している。このような構造単位の無秩序化は照射量や電子的エネルギー付与量より電子的阻止能と密接に関連していることが示された。
線スペクトロメトリーによる簡易放射能定量法亀尾 裕; 藤原 亜佐子; 渡辺 幸一; 河野 信昭; 中島 幹雄
日本原子力学会和文論文誌, 4(3), p.187 - 193, 2005/09
化学分離を行わず簡易に線放出核種を定量するため、ホウ砂球反応を用いた均一な無限厚試料の作製と線スペクトロメトリーによる測定手法について検討した。線放出核種とホウ砂あるいは鉛ガラスを混合した後、電気炉で溶融することにより、ガラス状の均一な測定試料を調製することができた。放射性希ガスの娘核種を生成する
Thとホウ砂を溶融して作製したガラス試料を測定した結果、Rnとその娘核種に起因する検出器の汚染はほとんど起こらないことがわかった。Thを含む試料の測定から得られた線スペクトルとホウ砂の化学組成から求めた阻止能を用いて、ほぼ放射平衡にあるTh系列の線放出核種を定量することが可能であった。さらに使用済燃料溶解液から採取した試料溶液とホウ砂から作製したガラス試料について、本測定法により定量された
Cm, 
Pu+
Am及び全放射能濃度は、精密分析により求められた値とよく一致した。
笹瀬 雅人
放射線化学, 2001(72), p.42 - 45, 2001/08
高温超伝導体の材料応用においては、超伝導転移温度(T
)ともに臨界電流密度(J)の向上が不可欠である。しかしながら従来までの高温超伝導体においては、電流を流すことにより磁束量子が動き、超伝導特性が急激に低下する問題点を抱えていた。これに対し著者は高速の重イオンを超伝導体に照射することにより磁束を固定化し、Jを向上させることに成功した。本稿では数MeV~数百MeVの広範囲なエネルギー範囲でイオン照射を行い、種々の照射条件における欠陥の形状、損傷の形態を高分解能透過型電子顕微鏡を用いて観察し、電子阻止能(S
)及びイオン速度との関係等について検討を行った結果を中心に紹介した。本研究により照射イオンの阻止能(S)の増加とともに円柱状欠陥の直径も増加し磁束固定化の効果が高くなること、またイオン速度の極端に高い領域では欠陥形成とイオンが固体中を通過する時間スケールが近づくためにSだけでなく欠陥形成に与えるイオン速度の効果が無視できないことを明らかにした。
知見 康弘; 岩瀬 彰宏; 石川 法人; 黒田 直志; 神原 正*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 164-165, p.408 - 414, 2000/04
被引用回数：7 パーセンタイル：47.27(Instruments & Instrumentation)照射アニーリング、すなわち照射中の欠陥消滅に焦点を絞って、鉄における電子励起効果について議論する。鉄薄膜試料(厚さ
200nm)に低温(77K)で1MeVイオン、100MeV重イオン、GeV重イオンを照射して、そのときの電気抵抗の変化から試料への欠陥蓄積挙動を調べた。また照射後試料を等速昇温法でアニールすることにより、照射で生成された欠陥の回復挙動を調べた。照射中の欠陥蓄積挙動から各イオンに対する欠陥照射面積が得られた。解析の結果、100MeV,GeV重イオンでは電子励起による欠陥消滅が支配的になり、さらにその断面積は、電子的阻止能に対して非線形に依存しているだけでなく、イオン速度にも依存していることがわかった。また、照射後の欠陥回復挙動の結果からも電子励起が照射アニーリングに寄与していることが確認された。
中嶋 佳則; 齋藤 勇一; 田島 訓
第12回タンデム加速器及びその周辺技術の研究会報告集, p.109 - 112, 1999/00
試料に照射されるビーム電流は、通常試料を絶縁して測定される。しかし、複数の加速器を用いて行う複合ビームの照射の場合は、それぞれのビーム電流を試料上で分けて測定することができないため、長時間照射におけるビーム電流の経時的な変化が問題となる。このような問題点を解決するため、試料にビームを照射しながら各加速器からのビーム電流値を測定できる、透過型ビーム電流計の開発をすすめている。これは、ビーム中に金属ワイヤーメッシュを挿入し、そこから発生する二次電子量をビーム電流値に換算するものである。今回は、予備的な実験として、タンデム加速器及びイオン注入装置に設置されているビームプロファイルモニタを使用し、数種類のイオン種について電荷数及びエネルギーを変えて、その時の二次電子電流を測定した。
13日,東京原子分子データ研究委員会
JAERI-M 92-134, 150 Pages, 1992/11
原子分子データ研究委員会の平成3年度の粒子-物質相互作用研究会が1991年12月12,13日の2日間原研本部で開催された。この研究会は、核融合のための原子・分子データの収集と評価の立場から、種々のエネルギー粒子と物質との相互作用に関する研究の現状を把握し、問題点を明確にすることにより、今後のワーキンググループの活動に資することを目的として開催されたものである。研究会では17の講演が行われ、本報告書は講演後に提出して頂いた16編のレポートをまとめたものである。主な内容は、ITERのプラズマ対向材料、炭素材の照射損傷、金属中の水素の捕捉と再放出、重イオンと固体表面との相互作用に関するものである。
荒井 康夫; 大道 敏彦
日本原子力学会誌, 33(8), p.757 - 760, 1991/08
EC超ウラン元素研究所のDr.Hj.Matzkeが、本年の原子力学会春の年会(近畿大学)で行った招待講演を抄訳したものである。講演の内容は、氏の専門分野の一つである原子力材料の照射損傷に関するもので、主としてセラミックス系核燃料の核分裂片損傷及び廃棄物固化体の線損傷について、その基本原理に始まり、最近の研究の進歩までのあらましを紹介したものである。
神山 秀雄
KURRI-TR-349, p.16 - 22, 1991/00
平成元年度に終了した「天然バリア安全性実証試験」のうち、野外通気層核種移行試験について、その概要について述べるとともに、試験結果の解析評価に際して検討した、1)適用する核種移行モデル、2)土壌構造の不均一性と水理特性の取扱い、3)核種移行試験結果の取扱い、4)実験解析モデルの移行評価モデルへの適用化、の4つの課題について考察した内容を報告した。
山口 誠哉
JAERI-M 89-074, 109 Pages, 1989/06
中性子・ガンマ線混在場における
Li、
Liガラス・シンチレータの応答の差を利用して、DT中性子で照射された核融合炉ブランケット模擬体系中のトリチウム生成率を、高感度、オンラインで、かつ高精度に測定する方法を開発した。特に、シンチレータが中性子束に与えるパータベーション(自己遮蔽効果および中性子束低下)、および、シシチレータのサイズが生成荷電粒子であるアルファ粒子・トリトンの飛程に比べて十分大きくないために生ずる波高分布の歪み(端効果)について、実験、理論およびモンテカルロ・シミュレーションにより詳しい検討を加えた。本測定法をブランケット模擬体系中のトリチウム生成率分布測定に適用し、
線計数法による結果と良い一致を得た。さらに、Li、Liガラス・シンチレータ同時測定、検出器の超小型化、強電磁場への適応を目的として、本測定法への光ファイバーの応用も行なった。
シグマ研究委員会
JAERI-M 85-024, 127 Pages, 1985/03
この報告書は、日本原子力研究所・シグマ研究委員会に昭和57年に設置された医学用原子分子・原子核データ・ワーキング・グループの昭和57、58年度の活動報告をまとめたものである。報告書では、主として(1)荷電粒子、電子の阻止能とそれに関連した問題および実際の医療における原子分子・核データの利用上の問題点の検討、(2)国外におけるデータ活動の現状の調査、(3)関連する分献リストの一覧表および、(4)今後の活動方針について述べている。
中井 洋太; 多幡 達夫*; 岡部 茂*
応用物理, 51(3), p.279 - 285, 1982/00
10keV以下の電子の物質透過に関して、放射線生物、固体物理、核融合などの分野における応用面の重要性について述べるとともに、阻止能、平均自由距離、飛程について最近の理論および実験の成果を解説した。そして若干の実験的な検証のもとで、自由電子ガス模型、電子ガス統計模型による計算値が、系統性に乏しい実験データにかわって応用上利用するのに妥当であるという展望を与えることができた。
ion energy loss parameter in thin films of UO那須 昭一; 小沢 国夫; 塩沢 憲一; 川面 澄; 倉沢 利昌; 内田 勝也*
Journal of Nuclear Materials, 73(2), p.213 - 216, 1978/02
被引用回数：4希ガスイオンの固体中の阻止能に関する情報はFP損傷やFP飛跡の研究にとって不可欠のものであるが、信頼すべき値は少ない。そこで2MVバンデグラフを使った後方散乱法により、真空蒸着した酸化ウラン(UO)薄膜中の0.3から2.0MeVのHeイオンの阻止能を求めた。阻止能の決定にあたっては、取扱いに煩雑な表面近似法や直線近似法によらず、薄膜の厚さに対する見かけのエネルギー損失の曲線の原点における勾配を真の阻止能とする新しい方式を提案した。この方法により、UO薄膜中のHeイオンの阻止能を求めたところ、厚さ500
程度の膜厚では、見かけの阻止能は真の阻止能の1.0%以内の確度で求められるが、膜厚が大きくなるにつれて、真の値から漸次ずれていくことがわかった。
